Investigation of gate edge effects on interface traps densities in 3C-SiC MOS capacitors
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2012
Författare
T. Gutt
T. Malakowski
H. M. Przewlocki
Olof Engström
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
M. Bakowski
R. Esteve
Material Science and Engineering B
2161-6221 (ISSN)
Vol. 177 1327-Ämneskategorier
Materialteknik
Annan elektroteknik och elektronik
Styrkeområden
Materialvetenskap