Quantitative XPS Depth Profiling for Nickel/4H-SiC Contact with Layered Structure
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2006
Ni/SiC contact
depth profiling
layered structure
XPS
Författare
Yu Cao
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik
Lars Nyborg
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik
ECASIA 2005, Surface and Interface Analysis special edition
Ämneskategorier
Materialteknik