Bump Height Effect on the Reliability and on the Strains Variations of ACA Flip-chip Joints

K. Pinardi; Zonghe Lai; Yi Lan Kang; Johan Liu

Bump Height Effect on the Reliability and on the Strains Variations of ACA Flip-chip Joints
Paper i proceeding, 2000

Författare

K. Pinardi

Zonghe Lai

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap

Forskning Andra publikationer

Yi Lan Kang

Johan Liu

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap

Forskning Andra publikationer

ECTC 50th

1118-1121

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-08

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Meddelande

Din e-postadress

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Chalmers bibliotek

Chalmers forskning

Chalmers examensarbeten

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE

Bump Height Effect on the Reliability and on the Strains Variations of ACA Flip-chip Joints Paper i proceeding, 2000