SiAlON Microstructures
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009
Författare
Lena Falk
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Key Engineering Materials
1013-9826 (ISSN) 16629795 (eISSN)
Vol. 403 265-268Ämneskategorier
Materialteknik