Non-destructive microwave characterization of ferroelectric films on conductive substrates
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004

Författare

Pär Rundqvist

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Andrei Vorobiev

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Spartak Gevorgian

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Khaled Khamchane

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik

Integrated Ferroelectrics

Vol. 60 1-19

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-06