Characterization and modeling of electrically active point defects in silicon/silcon dioxide structures
Doktorsavhandling, 1991

MOS capacitors

electro-optical techniques

Författare

Mats O. Andersson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

ISBN

91-7032-632-0

Technical report - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden: 220

Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie: 829