Atom-probe microanalysis of the AuGe/GaAs interface
Licentiatavhandling, 1993
interface
GaAs
atom-probe field-ion microscopy
microstructure
ohmic contact
AuGe
diffusion
Författare
Anders Kvist
Fysiska institutionen
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Fysik
ISBN
991-661743-0