Atom probe tomography of thermally grown oxide scale on FeCrAl
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2013
Författare
Fang Liu
Chalmers, Teknisk fysik, Materialens mikrostruktur
Krystyna Marta Stiller
Chalmers, Teknisk fysik, Materialens mikrostruktur
Ultramicroscopy
0304-3991 (ISSN) 1879-2723 (eISSN)
Vol. 132 279-284Styrkeområden
Energi
Materialvetenskap
Ämneskategorier
Annan materialteknik
DOI
10.1016/j.ultramic.2013.02.004