On logic test generation : algorithms and methods for combinational test generation
Licentiatavhandling, 2000

bridging faults

switchh level

binary decision diagrams

testability

feedback

ATPG

Författare

Hans Kristian Wiklund

Institutionen för datorteknik

Ämneskategorier

Datorteknik

ISBN

993-257304-3

Technical report L - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology. : 346

Mer information

Skapat

2017-10-07

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se eller via telefon 031-772 3744.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Forskningsprojekt på chalmers.se

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE