Probe fabrication for a scanning single-electron-transistor
Licentiatavhandling, 2004

cantilever

SET

scanning probe

scanning SET

fabrication yield

charging energy

nano fabrication

Författare

Henrik Brenning

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

Ämneskategorier

Nanoteknik

Mer information

Skapat

2017-10-07