X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)
energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX)
surface layers
thickness determination
powder metallurgy (PM)
soft magnetic composites (SMC)
focused ion beam (FIB)
depth profiling
high resolution scanning electron microscopy (HR SEM)
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik
Surface and Interface Analysis,; Vol. 46(2014)p. 1028-1032
Artikel i vetenskaplig tidskrift
Surface and Interface Analysis,; Vol. 44(2012)p. 1166-1170
Artikel i vetenskaplig tidskrift
Nanovetenskap och nanoteknik
Energi
Materialvetenskap
Bearbetnings-, yt- och fogningsteknik
Kompositmaterial och -teknik
Technical report - Department of Materials and Manufacturing Technology, Chalmers University of Technology
Lecture room HA2, Hörsalsvägen 4, Gothenburg
Opponent: Dr. Björn Skårman, Material Specialist at Höganäs AB, Höganäs, Sweden