Characterization of contacting boundaries between small particles with microdiffraction
Artikel i övrig tidskrift, 2002
Författare
Yiming Yao
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Anders Thölén
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Nanotechnology
Vol. 13 2 169-174
Ämneskategorier
Annan materialteknik
Den kondenserade materiens fysik
Styrkeområden
Materialvetenskap