Defocus Convergent Beam Electron Diffraction Analysis of Dislocations in Mullite
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009

Författare

Stefan Gustafsson

SuMo Biomaterials

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Forskning Andra publikationer

Lena Falk

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Forskning Andra publikationer

Journal of Microscopy

0022-2720 (ISSN) 1365-2818 (eISSN)

Vol. 233 2 346-351

Ämneskategorier

Materialteknik

DOI

10.1111/j.1365-2818.2009.03127.x

Publikationsdata kopplat till DOI

Mer information

Senast uppdaterat

2020-08-18

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Chalmers examensarbeten

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE