Electrical Characterization of Novel Insulators in Metal-Insulator-Semiconductor Structures
Doktorsavhandling, 1997
silicon dioxide
MOS
Fowler-Nordheim injection
charge transport
MIS
wafer bonding
polycrystalline diamond
capacitance
Författare
Anders Jauhiainen
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Fysik
Elektroteknik och elektronik
ISBN
91-7197-575-6
Technical report - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden: 323
Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie: 1350