Atom-probe microanalysis of the AuGe/GaAs interface
Licentiatavhandling, 1993

interface

GaAs

atom-probe field-ion microscopy

microstructure

ohmic contact

AuGe

diffusion

Författare

Anders Kvist

Fysiska institutionen

Ämneskategorier

Fysik

ISBN

991-661743-0

Mer information

Skapat

2017-10-07