0.5-Tb/s eye-diagram measurement by optical sampling using XPM-induced wavelenght shifting in highly nonlinear fiber
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004
Författare
J Li
Mathias Westlund
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Henrik Sunnerud
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Magnus Karlsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Peter Andrekson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
IEEE Photonic Technology Letters
Vol. 16 566-568
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik