Scanning tunnelling microscopy for laterally resolved measurements of magnetoresistance through a point contact
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2006

Författare

Erik Wahlström

Chalmers, Teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik

Forskning Andra publikationer

Rimantas Brucas

Chalmers, Teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik

Forskning Andra publikationer

Maj Hanson

Chalmers, Teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik

Forskning Andra publikationer

Applied Physics Letters

Vol. 88 112509-

Ämneskategorier

Annan teknik

Mer information

Skapat

2017-10-08

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Chalmers examensarbeten

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE