Preparation of TEM specimens from fragile oxide films using focused ion beam (FIB)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2002
Författare
Johan Angenete
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Krystyna Marta Stiller
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Henrik Svensson
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
15th International Congress on Electron Microscopy (ICEM-15)
Ämneskategorier
Materialteknik