Uncertainty estimation and optimal extraction of intrinsic FET small-signal model parameters
Paper i proceeding, 2002
Författare
Christian Fager
Institutionen för mikroelektronik
Peter Linner
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap
J.C. Pedro
IEEE MTT-S International Microwave Symposium
Vol. 2 729-32
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik