Uncertainty estimation and optimal extraction of intrinsic FET small-signal model parameters
Paper i proceeding, 2002

Författare

Christian Fager

Institutionen för mikroelektronik

Peter Linner

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap

J.C. Pedro

IEEE MTT-S International Microwave Symposium

Vol. 2 729-32

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik