Ab initio structure modelling of complex thin-film oxides: thermodynamical stability of TiC/thin-film alumina
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010
Structure modeling
thin films
interfaces
DFT
oxides
Författare
Jochen Rohrer
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Carlo Ruberto
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Chalmers, Teknisk fysik, Material- och ytteori
Per Hyldgaard
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Journal of Physics Condensed Matter
0953-8984 (ISSN) 1361-648X (eISSN)
Vol. 22 1 015004- 015004Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik
Materialvetenskap
Ämneskategorier
Bearbetnings-, yt- och fogningsteknik
Övrig annan teknik
Kemiska processer
Annan fysik
Den kondenserade materiens fysik
Drivkrafter
Innovation och entreprenörskap
DOI
10.1088/0953-8984/22/1/015004