Quantitative XPS Depth Profiling for Nickel/4H-SiC Contact with Layered Structure
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2006

Ni/SiC contact

depth profiling

layered structure

XPS

Författare

Yu Cao

Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik

Lars Nyborg

Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik

Ämneskategorier

Materialteknik