Deposition of RuO4 on various surfaces in a nuclear reactor containment
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009
tetroxide
ruthenium oxides
xps investigations
behavior
films
Författare
Joachim Holm
Chalmers, Kemi- och bioteknik, Kärnkemi
Henrik Glänneskog
Ringhals AB
Christian Ekberg
Chalmers, Kemi- och bioteknik, Kärnkemi
Publicerad i
Journal of Nuclear Materials
0022-3115 (ISSN)
Vol. 392 Nummer/häfte 1 s. 55-62Kategorisering
Identifikatorer
DOI
10.1016/j.jnucmat.2009.03.047