Measurements of industrial emissions of alkenes in Texas using the solar occultation flux method
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010
Spectroscopy
Författare
Johan Mellqvist
Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Optisk fjärranalys
Jerker Samuelsson
Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Optisk fjärranalys
John Johansson
Chalmers, Rymd- och geovetenskap, Optisk fjärranalys
Claudia Rivera
Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Optisk fjärranalys
B. Lefer
S. Alvarez
J. Jolly
Journal of Geophysical Research
01480227 (ISSN) 21562202 (eISSN)
Vol. 115Ämneskategorier
Meteorologi och atmosfärforskning
Atom- och molekylfysik och optik
DOI
10.1029/2008JD011682