Si-wedge for easy TEM sample preparation for in situ probing
Paper i proceeding, 2005

Si-wedge

sample preparation

TEM

Författare

Alexandra Nafari

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik

Peter Enoksson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik

Håkan Olin

Eurosensors

Vol. XIX WPa32-

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-08