Electron backscattering diffraction and X-ray diffraction studies of interface relationships in Sr3Ru2O7/Sr2RuO4 eutectic crystals
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2011
transport-properties
Eutectic structure
FEG-SEM
itinerant ferromagnet srruo3
growth
EBSD
X-ray diffraction
bulk
sr1-xcaxruo3
Författare
Regina Ciancio
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Henrik Pettersson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
R. Fittipaldi
Universita degli Studi di Salerno
Alexei Kalaboukhov
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
P. Orgiani
Consiglio Nazionale delle Ricerche (CNR)
A. Vecchione
Universita degli Studi di Salerno
Y. Maeno
Kyoto University
S. Pace
Universita degli Studi di Salerno
Eva Olsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Micron
0968-4328 (ISSN)
Vol. 42 4 324-329Ämneskategorier (SSIF 2011)
Fysik
DOI
10.1016/j.micron.2010.03.012