Fabrication of corrugated probes for scanning near-field optical microscopy
Paper i proceeding, 2011
Corregated SNOM probes
Scanning near-field optical microscopy
SNOM probes
Etching
Turner method
Aperture metal-coated probes
Bragg grating
Författare
P. Wróbel
Uniwersytet Warszawski
T. Stefaniuk
Uniwersytet Warszawski
Tomasz Antosiewicz
Chalmers, Teknisk fysik, Kondenserade materiens teori
A. Libura
Polish Academy of Sciences
G. Nowak
Polish Academy of Sciences
T. Wejrzanowski
Politechnika Warszawska
R. Slesinski
Politechnika Warszawska
K. Jedrzejewski
Politechnika Warszawska
T. Szoplik
Uniwersytet Warszawski
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
0277786X (ISSN) 1996756X (eISSN)
Vol. 8070 80700I978-081948660-8 (ISBN)
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1117/12.886844
ISBN
978-081948660-8