Automated Correction of Linear Deformation due to Sectioning in Serial Micrographs
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1995
Författare
Thomas Jansson
Tomas Gustavsson
Institutionen för tillämpad elektronik, Digitala bildsystem och bildanalys
Martin Rydmark
C.H. Berthold
R. Pascher
T. Skoglund
Publicerad i
Journal of Microscopy
Vol. 177 s. 119-127
Kategorisering
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Data- och informationsvetenskap