Effects of Cryogenic Sample Analysis on Molecular Depth Profiles with TOF-Secondary Ion Mass Spectrometry
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010

Författare

Alan M. Piwowar

Jeanette Kordys

Nicholas P. Lockyer

Nicholas Winograd

John C. Vickerman

Analytical Chemistry

Vol. 82 8291-8299

Ämneskategorier

Analytisk kemi

DOI

10.1021/ac101746h