Effects of Cryogenic Sample Analysis on Molecular Depth Profiles with TOF-Secondary Ion Mass Spectrometry
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010
Författare
Alan M. Piwowar
John Fletcher
Jeanette Kordys
Nicholas P. Lockyer
Nicholas Winograd
John C. Vickerman
Analytical Chemistry
Vol. 82 19 8291-8299
Ämneskategorier
Analytisk kemi
DOI
10.1021/ac101746h