A comparison of PCA and MAF for ToF-SIMS image interpretation
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009

Författare

Alex Henderson

John C. Vickerman

Surface and Interface Analysis

0142-2421 (ISSN) 1096-9918 (eISSN)

Vol. 41 8 666-674

Ämneskategorier

Analytisk kemi

DOI

10.1002/sia.3084

Publikationsdata kopplat till DOI

Mer information

Skapat

2017-10-10

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Chalmers examensarbeten

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE