Combining Scanning Probe Microscopy and Transmission Electron Microscopy
Kapitel i bok, 2011
TEM
TEMSPM
SPM
Författare
Alexandra Nafari
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Johan Angenete
Krister Svensson
Anke Sanz-Velasco
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Håkan Olin
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
59-134
978-3-642-10496-1 (ISBN)
Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik (SO 2010-2017, EI 2018-)
Materialvetenskap
Ämneskategorier
Materialteknik
Nanoteknik
Annan elektroteknik och elektronik
ISBN
978-3-642-10496-1