Combining Scanning Probe Microscopy and Transmission Electron Microscopy
Kapitel i bok, 2011
TEM
TEMSPM
SPM
Författare
Alexandra Nafari
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial och system
Johan Angenete
Krister Svensson
Anke Sanz-Velasco
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial och system
Håkan Olin
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology
59-134
Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik (2010-2017)
Materialvetenskap
Ämneskategorier
Materialteknik
Nanoteknik
Annan elektroteknik och elektronik
ISBN
978-3-642-10496-1