RF characterization of cold-electron bolometer integrated with a unilateral finline
Paper i proceeding, 2012
RF testing
Millimeter-wave detectors
Nanodevices
e-beam lithography
Nanotechnology
Författare
Ernst Otto
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
P. K. Grimes
University of Oxford
Smithsonian Astrophysical Observatory
G. Yassin
University of Oxford
Mikhail Tarasov
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Leonid Kuzmin
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
S. Withington
University of Cambridge
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
0277786X (ISSN) 1996756X (eISSN)
Vol. 8452 Art. no. 84521X- 84521X978-081949153-4 (ISBN)
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
ISBN
978-081949153-4