A near-field scanning microwave microscope based on a superconducting resonator for low power measurements
Paper i proceeding, 2013
near-field scanning optical microscopy
microwave resonators
quantum optics
atomic force microscopy
superconducting resonators
Författare
Sebastian Erik de Graaf
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Andrey Danilov
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Astghik Adamyan
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Sergey Kubatkin
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Review of Scientific Instruments
0034-6748 (ISSN) 1089-7623 (eISSN)
Vol. 84 2 023706- 023706Lemont, IL, USA,
Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik
Ämneskategorier
Nanoteknik
Den kondenserade materiens fysik
Infrastruktur
Nanotekniklaboratoriet
DOI
10.1063/1.4792381