MOSFET degradation and hot electron modeling
Doktorsavhandling, 1991
hot-electron degradation effects
Coulumb scattering
spatially dependent direct integration
direct integration method
Författare
Anders T. Dejenfelt
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Ämneskategorier
Data- och informationsvetenskap
ISBN
91-7032-558-8
Technical report - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden: 208
Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie: 789