MOSFET degradation and hot electron modeling
Doktorsavhandling, 1991

hot-electron degradation effects

Coulumb scattering

spatially dependent direct integration

direct integration method

Författare

Anders T. Dejenfelt

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Ämneskategorier

Data- och informationsvetenskap

ISBN

91-7032-558-8

Technical report - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden: 208

Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie: 789