Quantitative applications of secondary ion mass spectrometry : solid-state diffusion and mass fractionation studies
Doktorsavhandling, 1991

Secondary ion mass spactromy (SIMS)

isotopic ratios

elemental semiconductors

ionazion mechanisms

mass fractionation

high pressure

diffusion

activation parameters

isotope effects

Författare

Ulf Södervall

Institutionen för fysik

Ämneskategorier

Fysik

ISBN

91-7032-631-2

Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie: 819