tunneling
silicon emitter junctions
discrete conductance fluctuation
shallow doping
deep-level transient spectroscopy
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Elektroteknik och elektronik
91-7032-675-4
Technical report - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden: 226
Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie: 844