Using Heavy-ion Fault Injection to Evaluate Fault Tolerance with respect to Cluster Size in a Time-triggered Communication System
Paper i proceeding, 2003

Författare

Håkan Sivencrona

M. Persson

Jan Torin

Chalmers, Institutionen för datorteknik

Proceedings of IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS-6) April 2003, Poznan 2003

171-176

Ämneskategorier

Data- och informationsvetenskap

ISBN

83-7143-557-6

Mer information

Skapat

2017-10-06