Reliability evaluation of manufacturing processes for bipolar and MOS devices on silicon-on-diamond materials
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1996

Författare

Bengt Edholm

Anders Soderbarg

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Journal Of The Electrochemical Society

Vol. 143 1326-1334

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik