Reliability evaluation of manufacturing processes for bipolar and MOS devices on silicon-on-diamond materials
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1996
Författare
Bengt Edholm
Anders Soderbarg
Stefan Bengtsson
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Journal Of The Electrochemical Society
Vol. 143 4 1326-1334
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik