Reliability evaluation of manufacturing processes for bipolar and MOS devices on silicon-on-diamond materials

Bengt Edholm; Anders Soderbarg; Stefan Bengtsson

Reliability evaluation of manufacturing processes for bipolar and MOS devices on silicon-on-diamond materials
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1996

Författare

Bengt Edholm

Anders Soderbarg

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Forskning Andra publikationer

Journal Of The Electrochemical Society

Vol. 143 4 1326-1334

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-08

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Meddelande

Din e-postadress

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Chalmers bibliotek

Chalmers forskning

Chalmers examensarbeten

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE

Reliability evaluation of manufacturing processes for bipolar and MOS devices on silicon-on-diamond materials Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1996