Leakage current and capacitance characteristics of Si/SiO2/Si single-barrier varactor
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2001

Författare

Mamor Mamor

Ying Fu

Chalmers, Forskargrupp för fysikalisk elektronik och fotonik

Omer Nur

Magnus Willander

Stefan Bengtsson

Institutionen för mikroelektronik

Applied Physics A-Materials Science & Processing

Vol. 72 5 633-637

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

DOI

10.1007/s003390100862

Mer information

Skapat

2017-10-07