Electrical characterization of low thermal budget gate oxides on Si/Si0.8Ge0.2/Si substrates
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2002

Författare

Alok Sareen

Institutionen för mikroelektronik

A. C. Lindgren

Per Lundgren

Institutionen för mikroelektronik

Stefan Bengtsson

Institutionen för mikroelektronik

Publicerad i

Solid-State Electronics

Vol. 46 Nummer/häfte 7 s. 991-995

Kategorisering

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Annan elektroteknik och elektronik

Identifikatorer

DOI

10.1016/S0038-1101(02)00032-1

Mer information

Skapat

2017-10-08