Microwave characterization of Ti/Au-graphene contacts
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2013

In this paper, we report on a microwave characterization of the interface between Ti/Au contacts and chemical vapor deposition graphene using structures of Corbino geometry, with primary focus on extracting and modeling the capacitance associated with the contact region. It is found that with the current contact resistivity, ρc∼10^−6 Ωcm2, the contact capacitance, on the order Cc∼1 μF/cm2, has a negligible effect on microwave transmission through the contact below ∼100 GHz. Finally, a parallel plate capacitance model for the contact is presented.

Graphene

contact capacitance

contact resistance

microwave characterization

Författare

MICHAEL ANDERSSON

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Andrei Vorobiev

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Jie Sun

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik

Avgust Yurgens

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik

Spartak Gevorgian

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Jan Stake

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Applied Physics Letters

0003-6951 (ISSN) 1077-3118 (eISSN)

Vol. 103 17 173111- 173111

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Nanovetenskap och nanoteknik

Infrastruktur

Nanotekniklaboratoriet

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

DOI

10.1063/1.4826645