0.5-Tb/s eye-diagram measurement by optical sampling using XPM-induced wavelenght shifting in highly nonlinear fiber
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004
Författare
J Li
Mathias Westlund
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Henrik Sunnerud
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Magnus Karlsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Peter Andrekson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Publicerad i
IEEE Photonic Technology Letters
Vol. 16 s. 566-568
Kategorisering
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Elektroteknik och elektronik