0.5-Tb/s eye-diagram measurement by optical sampling using XPM-induced wavelenght shifting in highly nonlinear fiber
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004

Författare

J Li

Mathias Westlund

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Henrik Sunnerud

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Magnus Karlsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Peter Andrekson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Publicerad i

IEEE Photonic Technology Letters

Vol. 16 s. 566-568

Kategorisering

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-08