0.5-Tb/s eye-diagram measurement by optical sampling using XPM-induced wavelenght shifting in highly nonlinear fiber
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004

Författare

J Li

Mathias Westlund

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Henrik Sunnerud

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Magnus Karlsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Peter Andrekson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

IEEE Photonic Technology Letters

Vol. 16 566-568

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik