Defect studies in MBE grown GaSbBi layers
Paper i proceeding, 2013
Författare
N Segercrantz
J Kujala
F Tuomisto
J Slotte
Yuxin Song
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Shu Min Wang
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
27th International Conference on Defects in Semiconductors 2013, Bologna, Italy, 2013
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Materialteknik