Preparation of TEM specimens from fragile oxide films using focused ion beam (FIB)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2002

Författare

Johan Angenete

Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Krystyna Marta Stiller

Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Henrik Svensson

Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Ämneskategorier

Materialteknik