Maximising the potential for bacterial phenotyping using time‐of‐flight secondary ion mass spectrometry with multivariate analysis and Tandem Mass Spectrometry
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2014
ToF-SIMS
multivariate analysis
time-of-flight secondary ion mass spectrometry
tandem
MSMS
PCA
bacteria
Författare
Patrick M. Wehrli
Göteborgs universitet
Erika Lindberg
Göteborgs universitet
Tina B. Angerer
Göteborgs universitet
Agnes E Wold
Göteborgs universitet
Johan Gottfries
Göteborgs universitet
John Fletcher
Göteborgs universitet
Surface and Interface Analysis
0142-2421 (ISSN) 1096-9918 (eISSN)
Vol. 46 1 173-176Ämneskategorier
Analytisk kemi
Mikrobiologi
DOI
10.1002/sia.5505