Electrical Characterization of a New Enamel Insulation
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2014
conductivity measurement
Enamel insulation
permittivity measurement
dielectric polarization
surface potential decay
dielectric losses.
Författare
Tuan Anh Hoang
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Högspänningsteknik
Yuriy Serdyuk
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Högspänningsteknik
Stanislaw Gubanski
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Högspänningsteknik
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
1070-9878 (ISSN) 15584135 (eISSN)
Vol. 21 3 1291-1301 6832277Styrkeområden
Energi
Ämneskategorier
Annan materialteknik
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/TDEI.2014.6832277