Quantum Hall Effect and Quantum Point Contact in Bilayer-Patched Epitaxial Graphene
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2014
resistance metrology
monolayer and bilayer graphene
quantum point contact
scanning gate microscopy
SiC epitaxial graphene
quantum hall effect
Författare
C. Chua
University of Cambridge
M. Connolly
National Physical Laboratory (NPL)
University of Cambridge
Arseniy Lartsev
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Thomas Yager
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Samuel Lara Avila
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Sergey Kubatkin
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
S. Kopylov
Lancaster University
V. Fal'ko
Lancaster University
R. Yakimova
Linköpings universitet
R. Pearce
National Physical Laboratory (NPL)
Tjbm Janssen
National Physical Laboratory (NPL)
A.Y. Tzalenchuk
National Physical Laboratory (NPL)
Royal Holloway University of London
C. G. Smith
University of Cambridge
Nano Letters
1530-6984 (ISSN) 1530-6992 (eISSN)
Vol. 14 6 3369-3373Styrkeområden
Nanovetenskap och nanoteknik
Ämneskategorier
Fysik
DOI
10.1021/nl5008757