0.5 Tbit/s eye-diagram measurement by optical sampling using XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2003
Författare
Jie Li
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Mathias Westlund
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Henrik Sunnerud
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Bengt-Erik Olsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Magnus Karlsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Peter Andrekson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Publicerad i
IEEE Photonics Technology Letters
1041-1135 (ISSN) 19410174 (eISSN)
Vol. 16Nummer/häfte 2s. 566-568Kategorisering
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
Annan elektroteknik och elektronik
Identifikatorer
DOI
10.1109/LPT.2003.821088