Outliers effect in measurement data for T-peel adhesion test using Robust parameter design
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2014
Outliers
Linear regression
Peel strength
Robust parameter design method
Al-CPP flexible film
T-peel test
Dynamic signal-to-noise ratio
Författare
R. Dolah
Universiti Teknologi Malaysia, Kuala Lumpur
Meiji University
Z. Miyagi
Meiji University
Bo Bergman
Chalmers, Teknikens ekonomi och organisation, Industriell kvalitetsutveckling
Jurnal Teknologi (Sciences and Engineering)
0127-9696 (ISSN) 2180-3722 (eISSN)
Vol. 68 4 77-81Ämneskategorier
Tillförlitlighets- och kvalitetsteknik
DOI
10.11113/jt.v68.3001