The Possibility of Investigating the Influence of Surface Contamination on Oxidation by Using Electron and Ion Microscopy
Paper i proceeding, 2006

Författare

Fang Liu

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Helena Josefsson

Chalmers, Kemi- och bioteknik, Oorganisk miljökemi

Mats Halvarsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

The 16th International Microscopy Congress (IMC16), September 3-8, 2006, Sapporo, Japan, H. Ichinose and T. Sasaki (eds)

Drivkrafter

Innovation och entreprenörskap

Ämneskategorier

Annan materialteknik