The Possibility of Investigating the Influence of Surface Contamination on Oxidation by Using Electron and Ion Microscopy
Paper i proceeding, 2006
Författare
Fang Liu
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Helena Josefsson
Chalmers, Kemi- och bioteknik, Oorganisk miljökemi
Mats Halvarsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
The 16th International Microscopy Congress (IMC16), September 3-8, 2006, Sapporo, Japan, H. Ichinose and T. Sasaki (eds)
Drivkrafter
Innovation och entreprenörskap
Ämneskategorier
Annan materialteknik