Analysis of WC with increased Ta doping
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2015
APT
EBSD
SEM
Scanning electron microscopy
XRD
Författare
Jonathan Weidow
Chalmers, Teknisk fysik, Materialens mikrostruktur
E. Halwax
Technische Universität Wien
W. D. Schubert
Technische Universität Wien
International Journal of Refractory Metals & Hard Materials
2213-3917 (eISSN)
Vol. 51 56-60Ämneskategorier
Metallurgi och metalliska material
DOI
10.1016/j.ijrmhm.2015.03.001